如图甲所示，在磁感应强度为B的匀强磁场中有固定的金属框架ABC，已知∠B＝θ，导体棒DE在框架上从B点开始在外力作用下，沿垂直DE方向以速度v匀速向右平移，使导体棒和框架构成等腰三角形回路。设框架和导体棒材料相同，其单位长度的电阻均为R，框架和导体棒均足够长，不计摩擦及接触电阻。关于回路中的电流I和电功率P随时间t变化的下列四个图像中可能正确的是图乙中的（ ）
| A．①③ | B．①④ | C．②③ | D．②④ |
一个气泡由湖面下20m深处上升到湖面下10m深处，它的体积约变为原来的体积的（温度不变，水的密度为1.0×103kg/m3，g取10m/s2）（）
| A．3倍 | B．2倍 | C．1.5倍 | D．0.7 倍 |
双缝干涉实验装置如图13－4－7所示，调整实验装置使得像屏上可以见到清晰的干涉条纹．关于干涉条纹的情况，下列叙述正确的是( )
图13－4－7
| A．若将像屏向右平移一小段距离，屏上仍有清晰的干涉条纹 |
| B．若将像屏向左平移一小段距离，屏上的干涉条纹将不会发生变化 |
| C．若将像屏向上平移一小段距离，屏上仍有清晰的干涉条纹 |
| D．若将像屏向上平移一小段距离，屏上的干涉条纹将不会发生变化 |
如图13－4－6所示的双缝干涉实验，用绿光照射单缝S时，在光屏P上观察到干涉条纹．要得到相邻条纹间距更大的干涉图样，可以( )
图13－4－6
| A．增大S1与S2的间距 |
| B．减小双缝屏到光屏的距离 |
| C．将绿光换为红光 |
| D．将绿光换为紫光 |
某同学在实验中，用一束阳光照射单缝，在光屏上没有观察到干涉条纹，移去双缝屏，屏上出现一条较窄的光斑，分析实验失败的原因，最大的可能性是( )
| A．单缝的宽度太宽 | B．双缝间的距离太小 |
| C．双缝到单缝的距离不相等 | D．阳光不能作光源 |
某同学在做双缝干涉实验时，安装好实验装置，在光屏上却观察不到干涉图样，这可能是由于( )
| A．光束的中央轴线与遮光筒不一致，相差较大 |
| B．滤光片、单缝、双缝的中心在同一高度 |
| C．单缝与双缝不平行 |
| D．光源发出的光太强 |