飞行时间质谱仪可通过测量离子飞行时间得到离子的荷质比，如图1。带正电的离子经电压为U的电场加速后进入长度为L的真空管，可测得离子飞越所用时间。改进以上方法，如图2，让离子飞越AB后进入场强为（方向如图）的匀强电场区域，在电场的作用下离子返回端，此时，测得离子从出发后飞行的总时间，（不计离子重力）
⑴忽略离子源中离子的初速度，①用计算荷质比；②用计算荷质比。
⑵离子源中相同荷质比离子的初速度不尽相同，设两个荷质比都为的离子在端的速度分别为和，在改进后的方法中，它们飞行的总时间通常不同，存在时间差，可通过调节电场使。求此时的大小。
如图12-1-5所示，U形管竖直静止放置，左端封闭，右端开口向上，用水银封闭一部分气体A，左侧水银面比右侧水银面高h，已知外界大气压为p0，水银密度为ρ，求被封气体A的压强.
图12-1-5
如图12-1-4所示，玻璃管中用h高水银柱封闭着一段气柱，求封闭气柱的压强为（设大气压强为p0，水银密度为ρ）.
图12-1-4
在常温下，氧分子的平均速率约为500 m/s.如果一个氧分子以这个速率垂直地打在容器壁上，并以相同的速率反弹回来，氧分子对容器的冲量是多少？氧分子的质量为5.3×10-26 kg.如果常温下某容器内氧化的压强为1 atm，试估算1 s内打在1 cm2面积上的氧分子个数.（假定每个氧分子都以平均速率垂直于容器壁的方向撞击器壁）
A、B两地间铺有通讯电缆，长为L，它是由两条并在一起彼此绝缘的均匀导线组成的，通常称为双线电缆，在一次事故中经检查断定是电缆上某处的绝缘保护层损坏，导致两导线之间漏电，相当于该处电缆的两导线之间接入一个电阻．检查人员经过下面的测量可以确定损坏的位置：（1）令B端双线断开，在A处测出双线两端的电阻RA；（2）A端双线断开，在B处测出双线两端的电阻RB；（3）在A端的双线间加一已知电压UA，在B端的双线间用内阻很大的电压表测量出两线间的电压UB．
试由以上测量结果确定损坏处的位置．
如图7-3-15所示，某一导体的形状为长方体，其长、宽、高之比为a∶b∶c=5∶3∶2．在此长方体的上下、左右四个面上分别通过导线引出四个接线柱1、2、3、4．在1、2两端加上恒定的电压U，通过导体的电流为I1；在3、4两端加上恒定的电压U，通过导体的电流为I2，求I1∶I2．
25∶4